Misuratore di spessori di riporto Fischerscope

Misuratore di spessori di riporto Fischerscope X-Ray Tipo: XDVM-T7-WModello System X-RAYMacchina a norme CEAnno di costruzione 2004Il FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-W può misurare lo spessore del rivestimento e la composizione della lega di qualsiasi sistema di rivestimento metallico, compresi rivestimenti in lega singola, binaria e ternaria, doppi rivestimenti con o senza uno strato di lega e tripli rivestimenti.Il FISCHERSCOPE XDVM-W è dotato di un solido alloggiamento in lamiera per la camera di misurazione e di un comodo accesso alla grande camera di misurazione scanalata (560 mm X 530 mm X 160 mm / 22 “X 20,9” X 6,3 “) adatto a entrambi i campioni di misurazione XY di alta precisione, veloci e programmabili. I campioni hanno una corsa di 175 mm X 175 mm (6.9 “X 6.9”) e 250 mm X 250 mm (9.8 “X – 9.8”). La testa di misura è programmabile sull’asse Z, con una corsa di 145 mm (5,7 “). Il rapido viaggio verso le coordinate XYZ si ottiene con un clic del mouse.XDVM-W è ideale per la misurazione dello spessore del rivestimento ad alto volume su viti, connettori, strisce di contatto, schede PC. Il sistema misura in base al metodo di prova ASTM B568 o DIN 50987 e ISO 3497.